از صفر تا صد آزمون طیف سنجی مادون قرمز - تبدیل فوریه (FTIR)

جذب نور مرئی یا ماوراء بنفش توسط مواد منجر به انتقال سطح انرژی الکترونی شده و یک طیف جذب الکترونی حاصل میشود. بنابراین طیف سنجی و طیف بینی مرئی-فرابنفش یکی از گسترده ترین تکنیکهای مورد استفاده برای آنالیز کیفی و کمی ، با استفاده از بررسی برهمکنش نور و ماده می‌باشد. در طیف سنجی باریکه‌ای از نور (پرتو) به ماده مورد نظر تابانده می‌شود و با بررسی نور بازتابشی یا جذبی یا نشری به دریافت اطلاعات می‌پردازیم. طیف الکترو مغناطیس حاوی گستره ی از طول موجهاست. طول موج گستره ی nm۴۰۰-۸۰۰ گستره مرئی و nm ۲۰۰ – ۴۰۰به گستره فرابفنش نامیده می‌شود. طیف سنجی مرئی –فرابنفش به مطالعه این ناحیه از طیف اشعه الکترومغناطیس می‌پردازد.

دستگاه از قسمتهای مختلف نوری و الکترونیکی تشکیل شده‌است. در این دستگاه منبع تابش که میتواند لامپ تنگستن, برای تولید طول موج های ناحیه مرئی و هیدروژن یا دوتریوم,برای ناحیه ماورا بنفش باشد، طیف پیوسته ای از تابش را فراهم میکند. این طیف تابش توسط منوکروماتور تفکیک میشود و پهنه ی باریکی از طول موج توسط ابزارهای نوری به سل تابانده میشود. سپس نور عبوری توسط آینه متمرکز میشود و سرانجام در آشکارساز اندازه گیری میشود. آنالیز کیفی نمونه و بررسی اثر و تغییرات ماتریس بر روی آن از طریق روبش طول موج و بررسی طول موج ماکزیمم بدست می اید.آنالیزهای کمی برای گستره وسیعی از کاربردها با استفاده از قانون بیر-لامبرت که بیان می کند نمودار جذب علیه غلظت با گرادیان εl خطی است و رسم منحنی کالیبراسیون صورت می گیرد . بدلیل نیاز به تکنیکهای سریع در تشخیص مواد مختلف، این روش در مطالعات ساختاری و بنیادی و همچنین حوزه‌های کاربردی همچون تجزیه مواد در رشته‌های شیمی، مواد، رنگ, کشاورزی، پزشکی و …کاربرد گسترده‌ای دارد.

معرفی و روش تحلیل آزمون مغناطیس‌سنج نمونه ارتعاشی (VSM)

با توجه به پیشرفت تکنولوژی در زمینه مغناطیس و کاربردهای وسیع آن ها در زمینه صنعت، نیاز به ابزاری است که بتوان با استفاده از آن خواص مغناطیسی را بررسی کرد. دستگاه های مغناطیس سنج متفاوتی در این راستا وجود دارد که براساس میزان فرکانس جریان های عبوری به چند دسته تقسیم می شوند. دستگاه های مغناطیس سنج به روش های مختلف و در شرایط متفاوت دمایی، میدان مغناطیسی و جهت گیری نمونه، مغناطش یک نمونه از ماده با ابعاد مختلف را اندازه گیری می کنند. اساس کار دستگاه مغناطیس سنج VSM، قانون القای فارادی می باشد که با ارتعاش نمونه و اعمال میدان مغناطیسی به آن، باعث بوجود آمدن یک جریان القایی در سیم پیچ های تعبیه شده در دستگاه می شود که با مغناطش نمونه متناسب است. با انتقال این جریان القایی به کامپیوتر متصل به دستگاه و نمایش حلقه پسماند، مغناطش نمونه اندازه گیری می شود.

روش تحلیل آزمون طیف سنجی فوتو الکترون پرتو ایکس (XPS)

طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس، روشی به منظور بررسی سطح نمونه تا عمق حدود ۱۰۰ انگستروم از نظر آنالیز عنصری، ترکیب شیمیایی و تعیین حالت پیوندی است. با توجه به این نکته که انرژی جنبشی الکترونهای گسیل شده بر اثر یونیزاسیون یک ماده با فوتون تکفام پرتو ایکس مورد اندازه گیری قرار می گیرد، طیف فوتوالکترونهای آن ماده، بر مبنای تعداد الکترونهای گسیلی برحسب انرژی ترسیم می شود. انرژی فوتوالکترونهای هر نمونه آزمون، مشخصه ی اتم های تشکیل دهنده ی آن است، بنابراین اندازه گیری انرژی جنبشی این فوتوالکترونها معیاری برای تعیین عناصر موجود در آن نمونه است. شناسایی حالت شیمیایی و الکترونی عناصر ماده مانند تمایز قائل شدن بین اشکال سولفاتی و سولفیدی عنصر گوگرد از انحرافات اندکی در انرژی جنبشی و اندازه گیری میزان غلظت نسبی آن عنصر با توجه به شدت فوتوالکترون های مربوطه امکان پذیر است. از این روش در طیف وسیعی از صنایع چون هوافضا، الکترونیک، ارتباطات و حمل و نقل و غیره می توان بهره برد.

مشخصه یابی نانو لایه های نقره انباشته شده بر بستر نانولوله های کربنی بوسیله طیف سنجی رامان

در این پژوهش به منظور رشد عمودی نانولوله های کربنی از روش PECVD بر روی لایه ی سیلیکونی و بواسطه ی کاتالیست نیکل استفاده کردیم. لایه نشانی نقره به روش کندوپاش DC در ضخامت های 35، 60، 85 و 100 نانومتر بر بستر نانولوله های کربنی صورت پذیرفت. ساختار به دست آمده را با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (FESEM) و روش طیف سنجی رامان مورد شناسایی و تغییرات ساختاری و خواص الکتریکی را مورد بررسی قرار دادیم.

تحلیل کمی و کیفی داده‌های XRD

 می‌توان گفت مهم‌ترین بخش از آشنایی با XRD، تحلیل داده‌هایی است که در مورد مواد مختلف از طریق این روش به دست می‌آیند. روش‌هایی مانند رابطه‌ی براگ، روش دبای شرر و روش ویلیامسون‌هال از جمله روش‌های تحلیل کمی داده‌های XRD هستند که به کلیات آنها خواهیم پرداخت. اما قبل از تحلیل کمی، تحلیل کیفی داده‌های مربوط به ساختارهای کریستالی مختلف مواد را با هم بررسی می‌کنیم.

آنالیز طیف FTIR

طیف فرو سرخ و تاباندن نور بر ساختار مولکولی، به معنای واقعی کلمه یکی از اصلی ترین و مفیدترین ابزار اکتشافات علمی در اطراف ما بوده است از آنجاییکه از ابتدای زمان،نژاد بشر شروع به استفاده از آن کرده است حتی قبل از آنکه ما نامی بر آن بگذاریم. این ابزار شگفت انگیز چیست؟ نور!روشن سازی به ما اجازه می دهد تا ببینیم آنچه که ما داریم انجام می دهیم و مشاهدات بنیادی در مورد بتحقیقات علمی را ممکن می سازد و اندازه گیری طول موج های روشن مختلف می تواند به ما در مورد یک ماده بگوید. در آزمایش پلیمرها، برای بدست آوردن اطلاعات در مورد ماده دلخواه، ما از طیف سنجی (آزمایش اینکه مواد چطور در یک جامد، مایع یا شکل گازی با نورواکنش می دهند) استفاده می کنیم.

روش تحلیل طیف سنجی رامان (Raman)

طیف سنجی رامان یک تکنیک طیف سنجی مولکولی است (یعنی با شناسایی مولکول ها سر و کار دارد، نه اتمها) که کاربرد های متنوعی در زمینه های تحقیقاتی مختلف پیدا کرده است. تکنیک رامان بر خلاف سال های ابتدایی ابداعش، امروزه بسیار متداول شده و در علوم پایه و کاربردی استفاده فراوانی پیدا کرده است. در حقیقت تکنیک رامان کاربرد گسترده خود را مدیون پیشرفت های دستگاهی زیادی است که تاکنون در این زمینه پدید آمده و این تکنیک را بیش از پیش ساده تر، قابل دسترس تر و مقرون به صرفه تر کرده است. البته با وجود پیشرفت های به عمل آمده، هنوز در برخی موارد تفسیر یک طیف رامان دشوار بوده و نیازمند مهارت ویژه ای می باشد تا از تفسیر های نادرست اجتناب شود.